獨家：NTT推算通信裝置一年至少發生3萬起“軟錯誤”

　　【共同社3月22日電】21日從對日本NTT公司等的採訪獲悉，關於來自太空的放射線（宇宙射線）導致電子設備運轉暫時出錯的“軟錯誤”現象，據推算NTT國內網絡通信裝置一年中至少發生3萬至4萬起。其中大部分會被設備的安全裝置自動糾正，但專家指出該現象也可能導致通信故障。

　　獲悉支撐國內信息基礎設施的通信裝置發生軟錯誤的規模尚屬首次。

　　宇宙射線與大氣層中的氧氣或氮氣撞擊就會產生中子。這些中子與電子設備的半導體碰撞後，內部保存的數據被改寫引發錯誤的現象即為軟錯誤。隨著半導體小型化、高性能化的電子設備驟增，軟錯誤也在增多。除引起電腦和手機死機外，在海外還出現過被指為飛機事故原因的情況。

　　熟悉軟錯誤問題的大阪大學研究生院教授橋本昌宜表示，在國內外的通信和工廠也已造成實際損害，並指出：“今後，人工智能（AI）和自動駕駛等社會基礎設施對電子設備的依賴度越高，就越有可能產生較大影響。”他強調政府和企業等有必要推進研究和應對。

　　軟錯誤無法像物理性故障一樣再現，難以鎖定原因和採取對策。為此，NTT通過向半導體照射中子的實驗測定軟錯誤的發生頻率。該公司推算出其在日本國內的服務器等通信裝置每天會發生約100起軟錯誤。

　　NTT未透露是否實際發生通信故障，但表示“基於實驗和推算，已確認設備設計和安全裝置的性能，正在採取避免信息基礎設施受到較大影響的對策”。（完）

文章引用自 https://tchina.kyodonews.net/news/2021/03/e5f7c5e1e89d-ntt3.html